только для медицинских специалистов

Раздел 8 / 11

Страница 1 / 10

7. Особенности тестирования электронных компонентов

/

Режим прокрутки

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 2 стр. из этой главы.

Для продолжения работы требуется вход / регистрация

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

Читать в приложении

Маркировка радиодеталей отечественных и зарубежных. Том 1

Оглавление

Предисловие

1. Резисторы +

2. Конденсаторы +

3. Катушки индуктивности +

4. Маркировка кварцевых резонаторов и пьезофильтров +

5. Маркировка полупроводниковых приборов +

6. Маркировка полупроводниковых SMD радиокомпонентов +

7. Особенности тестирования электронных компонентов -

7.1. Тестирование конденсаторов

7.2. Тестирование полупроводниковых диодов

7.3. Тестирование транзисторов

7.4. Тестирование однопереходных и программируемых однопереходных транзисторов

7.5. Тестирование динисторов, тиристоров, симисторов

7.6. Определение структуры и расположения выводов транзисторов, тип которых неизвестен

7.7. Тестирование полевых МОП-транзисторов

7.8. Тестирование светодиодов

7.9. Тестирование оптопар

7.10. Тестирование термисторов

7.11. Тестирование стабилитронов

7.12. Расположение выводов транзисторов

Приложение 1. Краткие справочные данные по зарубежным диодам

Приложение 2. Краткие справочные данные по зарубежным транзисторам

Приложение 3. Типы корпусов СВЧ транзисторов